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Sistema para pruebas de alta velocidad y bajo ruido en circuitos integrados

Autor

Paramidani, Matías

Título

Sistema para pruebas de alta velocidad y bajo ruido en circuitos integrados

Colaborador

Alvarez, Nicolás

Descripción

Grado obtenido: Especialista en sistemas embebidos

Disciplina: Especialización en sistemas embebidos

Fil: Paramidani, Matías. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería

Editor

Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería

Fecha

2020

Extensión

xi, 53 p.

Resumen

La presente memoria describe el desarrollo de un sistema que permite realizar ensayos de laboratorio sobre distintos circuitos integrados. Este trabajo fue solicitado por la empresa Allegro Microsystems, dedicada al diseño, fabricación y evaluación de circuitos integrados. En la elaboración de este trabajo se han aplicado los conocimientos adquiridos sobre diseño de lógica programable, microarquitecturas, diseño de circuitos impresos, desarrollo de firmware y software.